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熒光膜厚計(jì)特點(diǎn):
中文視窗操作測量系統(tǒng)解析度0.001um, 小測量面積0.1mmΦ可測量合金層之厚度和組成比例可測量兩層以上鍍層之個(gè)別厚度藉由光譜分析可判定被測物之元素適用對象:1C導(dǎo)線架,封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。
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